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    辰卓科技CZD800測(cè)試機(jī):三大方面提升MCU類產(chǎn)品測(cè)試成本效益

    • 發(fā)布時(shí)間:2023-05-25
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    辰卓科技CZD800測(cè)試機(jī):三大方面提升MCU類產(chǎn)品測(cè)試成本效益

    為國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體的“頂流”,國(guó)產(chǎn)MCU市場(chǎng)規(guī)模、產(chǎn)品規(guī)格、工藝水平都在持續(xù)提升,在芯片測(cè)試方面,如何更加經(jīng)濟(jì)高效的執(zhí)行MCU芯片測(cè)試,也是整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈持續(xù)追求的目標(biāo)。


    辰卓科技推出的CZD800數(shù)字測(cè)試機(jī),面向MCU、Nor Flash、ASIC等數(shù)字類芯片的CP/FT測(cè)試,從系統(tǒng)架構(gòu)、硬件能力、軟件效率等各個(gè)方面進(jìn)行了專門(mén)的測(cè)試效率提升設(shè)計(jì),能夠?yàn)镸CU類產(chǎn)品測(cè)試帶來(lái)更高成本效益。

    CZD800在系統(tǒng)設(shè)計(jì)上創(chuàng)新采用嵌入式主控方式,從多個(gè)維度實(shí)現(xiàn)了測(cè)試執(zhí)行效率的提升:


    ATE軟件系統(tǒng)直接部署在嵌入式主控,與Tester之間以系統(tǒng)內(nèi)通信方式進(jìn)行交互,配合自定義的軟硬件通信機(jī)制,在保障軟硬件指令執(zhí)行同步性與可靠性的同時(shí),充分發(fā)揮系統(tǒng)內(nèi)通信機(jī)制的優(yōu)勢(shì),簡(jiǎn)化通信流程,極大提升了Tester軟硬件交互效率。


    相比外置主控方式,單指令交互時(shí)延從ms級(jí)別可提升到百ns級(jí)別。



    嵌入式主控與各業(yè)務(wù)板擁有獨(dú)立高速物理連接通道,配套多核多線程資源,可將具體業(yè)務(wù)執(zhí)行分發(fā)至多塊業(yè)務(wù)板并行執(zhí)行,構(gòu)建高速化并行系統(tǒng)。


    配套CZD800的程序語(yǔ)言在指令設(shè)計(jì)上充分考慮并行優(yōu)化,可以將并行系統(tǒng)能力發(fā)揮到極致,測(cè)試程序執(zhí)行效率更高。


    以上優(yōu)化設(shè)計(jì)在實(shí)際量產(chǎn)中效果明顯。


    以一款帶Nor Flash的MCU 12寸Wafer CP測(cè)試為例,128-site并測(cè),測(cè)試分為3個(gè)CP段,CP1完成芯片MTP基礎(chǔ)編程功能測(cè)試,CP2完成測(cè)試程序?qū)懭搿⒑诵?外設(shè)功能測(cè)試、MTP區(qū)域編程的進(jìn)一步校驗(yàn)等,CP3完成Scan、Trimming、功耗等其他DC項(xiàng)測(cè)試。


    與海外某同等配置機(jī)型對(duì)比,相同良率下辰卓科技CZD800數(shù)字測(cè)試機(jī)平均到每TD耗時(shí)共計(jì)27.2s(4+15.2+8),相比對(duì)比機(jī)型的32.3s(4.8+19.2+8.3),在測(cè)試效率上平均有15.7%的提升。



    并測(cè)度提升是效率提升最有效的手段,CZD800通過(guò)豐富的單機(jī)資源提供高并測(cè)能力,單機(jī)可實(shí)現(xiàn)256-site并測(cè)


    ?  數(shù)字板單板128通道,自帶板級(jí)PMU、DPS資源和AWG功能,單機(jī)可達(dá)1024 IO通道

    ?  Pattern向量存儲(chǔ)空間128M行,測(cè)試速率200Mbps, Per-pin規(guī)格,無(wú)使用限制

    ?  高密度DPS板單板可支持64通道,高壓VI板可支持±40V 32通道,靈活搭配滿足各類測(cè)試供電需求

    ?  獨(dú)立的16-bit AWG板可提供更豐富的大數(shù)小模測(cè)試方案



    CZD800配套全自研ATE軟件系統(tǒng)MetaATE,在指令設(shè)計(jì)、工具支持、人機(jī)交互方面均以高效、易用為設(shè)計(jì)目標(biāo):

    高內(nèi)聚指令簡(jiǎn)化程序開(kāi)發(fā)步驟

    MetaATE在程序指令的設(shè)計(jì)上充分考慮關(guān)聯(lián)操作的聚合性,一條指令可完成一類相關(guān)操作,極大簡(jiǎn)化了程序開(kāi)發(fā)的步驟,可以節(jié)省至少20%的程序開(kāi)發(fā)時(shí)間。

    兼容性工具提升問(wèn)題分析效率

    ?  在程序調(diào)試上MetaATE完全兼容標(biāo)準(zhǔn)C/C++工具,方便高效Debug

    ?  在工程開(kāi)發(fā)上支持主流測(cè)試機(jī)工程直接轉(zhuǎn)換,極大提高了跨平臺(tái)工程轉(zhuǎn)換效率

    ?  在Pattern處理上,Pattern轉(zhuǎn)換工具支持主流測(cè)試機(jī)Pattern、EDA軟件直接生成的Pattern等快速的格式轉(zhuǎn)換;Pattern Editor編輯工具可以支持持續(xù)的Log捕獲,方便問(wèn)題定位

    ?  其它如Shmoo、Match等也兼容多種工作模式(如Shmoo的單語(yǔ)句掃描和整測(cè)試項(xiàng)掃描,Match的智能匹配以提高燒錄等耗時(shí)項(xiàng)目的測(cè)試效率等等),針對(duì)不同場(chǎng)景提供更高效方式應(yīng)用方式


    易用性UI降低軟件學(xué)習(xí)成本

    MetaATE在程序開(kāi)發(fā)、調(diào)試、Pattern處理、數(shù)據(jù)分析、系統(tǒng)配置等方面都進(jìn)行了良好的易用性設(shè)計(jì),在商用中大幅降低了用戶掌握新平臺(tái)的學(xué)習(xí)成本,極大提升了用戶在測(cè)試工程開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)數(shù)據(jù)分析方面的效率,廣受客戶肯定。


    除產(chǎn)品軟硬件設(shè)計(jì)帶來(lái)的效率提升外,CZD800在系統(tǒng)配置方面也非常靈活,產(chǎn)品支持1024/768/512/384等多種典型配置,方便用戶分階段配置、按需擴(kuò)容,提升成本效益。


    自2021年開(kāi)始提供MCU測(cè)試解決方案以來(lái),產(chǎn)品已大量應(yīng)用于不同類型、不同規(guī)格的MCU芯片測(cè)試中,在測(cè)試成本效益方面對(duì)客戶助力顯著。

    接下來(lái)辰卓科技將發(fā)布CZD800升級(jí)款產(chǎn)品CZD800H,CZD800H面向中高端SoC芯片測(cè)試,在資源規(guī)格、測(cè)試速率方面都會(huì)有大幅提升,將會(huì)為國(guó)產(chǎn)中高端SoC芯片測(cè)試帶來(lái)更高性價(jià)比方案。


    辰卓科技秉持“半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)創(chuàng)新專家,助力半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)自主可控、高效可靠”的企業(yè)使命,在助力客戶提升測(cè)試成本效益方面不懈努力,將持續(xù)推出技術(shù)行業(yè)領(lǐng)先、測(cè)試高效穩(wěn)定的半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)產(chǎn)品及解決方案,與行業(yè)客戶合作共贏。

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